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DM2500

MMEDXRF輕中元素光譜儀

（通用型）

多單色激發實現高峰背比，使能測元素（B～Zn），

其準確度媲美大型波長色散光譜儀

通用型滿足各行各業任何種類

物料元素濃度的測量要求

采用

多單色激發能量色散X射線熒光(MMEDXRF)分析技術

對數螺線型雙曲面彎晶(LSDCC)實現衍射并作為二次靶

高計數率、高分辨率、高透過率(AP3.3窗)SDD探測器

電壓、電流、靶材完美組合的微焦斑薄鈹窗X射線管源

符合標準

GB/T3286.11

GB/T4333.5

YS/T63.16

GB/T24198

GB/T24231

GB/T34534

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085

等

概述

DM2500MMEDXRF輕中元素光譜儀，詳稱DM2500多單色激發能量色散X射線熒光輕中元素（B～Zn）光譜儀，是本公司集數十年X熒光光譜儀的研究經驗，在公司原有的DM系列X熒光硫鈣鐵分析儀、X熒光多元素分析儀、X熒光光譜儀等的基礎上研制推出的一種具創新性的XRF光譜儀。它采用多單色激發能量色散X射線熒光(MMEDXRF) ( Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術。主要部件，如：單色晶體采用本公司研制的具有本公司專利的對數螺線旋轉點對點聚焦鍺單色晶體，X射線管采用KeyWay公司生產的50W微焦點大輻射角薄鈹窗X射線管，并對其高壓、電流、靶材進行最佳組合， X射線探測器采用德國Ketek公司生產的具有高計數率、高能量分辨率、高透過率的常溫用SDD半導體X射線探測器。并且采用具有本公司自主知識產權的輕元素專用的光學系統及多種方法組合使用的多個單色激發系統等獨有的技術，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比。它還采用X射線向下照射系統，樣品自旋裝置，特別適合粉末壓片樣品，且可根據應用選擇真空系統或自充氣系統。由此使本光譜儀達到國際領先水平。在與大型波長色散光譜儀的比較試驗中，其大部分性能指標接近或達到大型波長色散光譜儀的性能指標，某些甚至超過。其性能指標相比進口同類產品更好，而價格僅為進口同類產品的一半，具有無可比擬的價格性能比。另外國內企業售后服務的方便程度是國外企業所無法相比的。且本光譜儀良好的屏蔽防護設計保證無任何射線泄漏，滿足輻射豁免要求。

適用范圍

DM2500MEDXRF輕中元素光譜儀可用于各行各業所有物料的含量測量。無論環保、冶金、化工、地質、礦山、電子電氣、食品等各行業，還是壓片、熔片、液體等各類型樣品，只要用戶所要求的測量元素在B(5)～Zn(30)的范圍內，DM2500都能進行準確測量。其符合幾乎所有元素測定XRF光譜法標準的相關要求，如：國家或行業標準GB/T 176—2017《水泥化學分析方法》、GB/T3286.11-2022《石灰石及白云石化學分析方法　第11部分：氧化鈣、氧化鎂、二氧化硅、氧化鋁及氧化鐵含量的測定　波長色散X射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、GB/T4333.5-2016《 硅鐵 硅、錳、鋁、鈣、鉻和鐵含量的測定 波長色散X-射線熒光光譜法（熔鑄玻璃片法）》、YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法 第16部分：元素含量的測定 波長色散X射線熒光光譜分析方法》、GB/T24198-2009《鎳鐵.鎳、硅、磷、錳、鈷、鉻和銅含量的測定.波長色散X射線熒光光譜法(常規法)》等。其還符合行業標準JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》、JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》。

如貴用戶對某些元素的測量有特殊的要求，則本公司可根據用戶的要求更改單色激發系統和或軟件系統以滿足用戶對測量元素的要求。

特點

快速同時–所需測量元素同時快速分析，一般幾十秒給出含量結果。

高準確度–采用先進MMEDXRF技術，LSDCC核心技術，根據所要測量的元素來選擇單色光的能量及產生單色光的方法，極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比，具出色的重復性和再現性，極高的準確度。

向下照射–采用X射線向下照射系統，杜絕了樣品粉末污染損壞探測系統的可能，特別適合粉末壓片樣品。

樣品自旋–具有樣品自旋裝置，消除了壓片樣品中由于特硬物質的存在而不易粉碎造成的樣品不均勻性。

長期穩定–采用可變增益數字多道，有PHA自動調整、漂移校正、偏差修正等功能，具極好的長期穩定性。

環保節能–射線防護達豁免要求。分析時不接觸不破壞樣品，無污染，無需化學試劑，也不需要燃燒。

使用方便–觸摸屏操作。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動]鍵即可，真正實現一鍵操作。

高可靠性–一體化設計，集成化程度高，環境適應能力強，抗干擾能力強，可靠性高。

高性價比–無需鋼瓶氣體，運行維護成本極低。價格為國外同類產品的一半。是真正的高性價比產品。

尖端技術

同標準型

校準

X熒光分析方法是一種參考方法，校準是為得到定量的結果所必須的。XRF光譜儀通過比較已知標樣與未知樣的光譜強度來得到定量分析的結果。其某元素的含量計算式（即校準曲線）為：

C＝D＋EI_C＋FI_C ²                                                     （1）

式中，I_C =f(I₀)，I₀為原始強度（即原始道計數率），I_C為處理后強度（或修正后強度），D、E、F是由校準確定的系數。校準的方法是：用光譜儀測量一系列校準標準樣品或有證標準樣品的每種元素強度，利用回歸分析，例如最小二乘法，確定（1）的系數。

用已知含量的某單位鋁用碳素校準樣品對光譜儀進行校準，得到的數據如表1。

表1.某單位鋁用碳素校準樣品校準結果數據（ppm）

這些校準曲線的相關系數γ 均大于0.95，表示DM2500光譜儀的線性誤差極小。

重復性

對某單位鋁用碳素樣品中的某一樣品，進行11次測量，得到各元素的重復性數據如表2。

表2.某單位鋁用碳素樣品重復性測量數據分析（ppm）

注：粉末壓片樣品。在X射線源為半功率（25W），測量時間為300s的條件下，連續進行11次測量所得的結果。

從上表可知：光譜儀的重復性限均小于行業標準YS/T63.16—2019《鋁用碳素材料檢測方法 第16部分：元素含量的測定 波長色散X射線熒光光譜分析方法》所要求的重復性限。所以，DM2500光譜儀可實現優異的重復性，完全滿足YS/T63.16—2019有關重復性的要求。

主要技術指標

注：檢出限與樣品基體有關。